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  • 审计最终粒度仪
    审计最终粒度仪:专为复杂体系提供高精度粒度解析方案,工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),检测范围:0.3nm-10.0μm。
    更新时间:2024-05-15型号:
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