审计最终粒度仪-上海莱谊纳米科技有限公司

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审计最终粒度仪
审计最终粒度仪：专为复杂体系提供高精度粒度解析方案，工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），检测范围：0.3nm-10.0μm。

产品型号：
Z3000

厂商性质：
经销商

更新时间：
2026-01-23

浏览次数：
3760

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