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粒度及zeta电位分析仪

简要描述:粒度及zeta电位分析仪工作原理:
粒度检测: 动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
Zeta电位检测:带相位分析的多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)

  • 更新时间:2024-01-17
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详细介绍
品牌PSS分散方式湿法分散
价格区间面议仪器种类动态光散射
产地类别进口应用领域医疗卫生,环保,化工,生物产业,制药
粒度范围0.3nm--10.0μmZeta电位范围-500mV?--?+500mV

粒度及zeta电位分析仪简介:

Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有*技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。

粒度及zeta电位分析仪技术优势

1、高灵敏度PMT检测器;

2、可搭配不同功率光源;

3、准确度高,接近样品真实值;

4、可测试水相及有机相样品的粒度及Zeta电位;

5、快速检测,可以追溯历史数据;

6、结果数据以多种形式和格式呈现;

7、符合USP,CP等个多药典要求;

8、无需校准;

9、复合型算法:

(1)高斯(Gaussion)正态粒度分布与*的Nicomp多峰分布算法自由切换

(2)频率(Frequency)Zeta电位分析法与*的相位(Phase)分析法自由切换

10、模块化设计便于维护和升级;

(1)可自动稀释模块(选配);

(2)自动进样系统(选配);

(3)搭配多角度检测器(选配);



Nicomp多峰分布概念

基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所*的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。


Nicomp多峰分布优势

Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的准确情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。


ZETA电位分析仪优势:

模块化设计

Nicomp Z3000纳米激光粒度仪是全*在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。


选配 21CFR Part 11法规软件——符合cGMP要求

Nicomp系列仪器全系配备了符合美国联邦法规21章第11款(21 CFR PART11)要求的软件。具有数据自动备份,审计追踪,权限分级,电子签名,可连接Lims系统等多项功能。

中国食品药品监督管理局(NMPA)有政策趋势将对医药研发企业实施规范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法规的软件更能符合现在GLP/GMP的要求。


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