粒度仪_第(3)页-上海莱谊纳米科技有限公司

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AccuSizer 780 A7000 APS大乳粒分析仪

大乳粒分析仪工作原理：单颗粒光学传感技术（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,检测范围：&amp;#160;0.5 μm – 400 μm

更新时间：2024-01-17型号：AccuSizer 780 A7000 APS
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PSS光阻法粒度仪

PSS光阻法粒度仪：专为复杂体系提供高精度粒度解析方案，工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），检测范围：0.3nm-10.0μm。

更新时间：2024-01-17型号：
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Nicomp Z3000 ZetaZETA电位分析仪

ZETA电位分析仪工作原理：粒度检测：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta电位检测：带相位分析的多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新时间：2024-01-17型号：Nicomp Z3000 Zeta
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Nicomp 380 N3000纳米激光粒度仪

纳米激光粒度仪：专为复杂体系提供高精度粒度解析方案，工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），检测范围：0.3nm-10.0μm。

更新时间：2024-01-17型号：Nicomp 380 N3000
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Nicomp Z3000 ZetaZeta电位与粒径分析仪

专为复杂体系提供高精度粒度解析仪器型号：Nicomp Z3000 Zeta电位/纳米粒度分析仪工作原理：粒度检测：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta电位检测：带相位分析的多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新时间：2024-01-17型号：Nicomp Z3000 Zeta
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