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ZETA电位分析仪工作原理: 粒度检测: 动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) Zeta电位检测:带相位分析的多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)
Nicomp Z3000 Zeta
经销商
2026-01-23
7623
纳米激光粒度仪:专为复杂体系提供高精度粒度解析方案,工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),检测范围:0.3nm-10.0μm。
Nicomp 380 N3000
经销商
2026-01-23
3925
专为复杂体系提供高精度粒度解析 仪器型号:Nicomp Z3000 Zeta电位/纳米粒度分析仪 工作原理: 粒度检测: 动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) Zeta电位检测:带相位分析的多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)
Nicomp Z3000 Zeta
经销商
2026-01-23
7901
专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 仪器型号:Nicomp N3000 进口激光粒度分析仪 工作原理:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS) 检测范围:0.3nm-10.0μm
Nicomp 380 N3000
经销商
2026-01-23
10366
审计最终粒度仪-全自动颗粒计数/粒度分析仪仪器型号:AccuSizer 780 A7000 APS 全自动颗粒计数/粒度分析仪 工作原理:单颗粒光学传感技术(Single Particle Optical Sizing,SPOS) 检测范围: 0.5 μm – 400 μm
AccuSizer A7000 APS
经销商
2026-01-23
20500
AccuSizer AD系列产品自动稀释颗粒计数分析检测仪是创先使用自动稀 释技术来对样品进行检测,且提供高分辨率的粒径分析仪。AccuSizer AD系 列产品采用拥有的单颗粒激光测量技术,且操作简单,*的系统对微粒 进行粒径分析和数目统计。只需通过鼠标的单击操作,即能帮助用户在短时间 内完成从进样到检测,完成清洗系统的所有操作,使用户获得重要的粒径分布信息。
AccuSizer780AD
经销商
2026-01-23
7545
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